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新型转动惯量实验仪KY-IM-C

新型转动惯量实验仪KY-IM-C

简要描述:新型转动惯量实验仪KY-IM-C
转动惯量是描述刚体转动中惯性大小的物理量,它与刚体的质量分布及转轴位置有关。正确测定物体的转动惯量,在工程技术中具有十分重要的意义。用三线摆法测定刚体的转动惯量是高校理工科物理实验教学大纲中的一个重要实验。

产品型号: KY-IM-C

所属分类:专业仪器

更新时间:2022-07-15

厂商性质:其他

详情介绍
品牌同德产地国产

新型转动惯量实验仪KY-IM-C

转动惯量是描述刚体转动中惯性大小的物理量,它与刚体的质量分布及转轴位置有关。正确测定物体的转动惯量,在工程技术中具有十分重要的意义。用三线摆法测定刚体的转动惯量是高校理工科物理实验教学大纲中的一个重要实验。

  为了使教学仪器和教学内容更好的反映现代科学技术,该仪器采用激光光电传感器与计数计时仪相结合,测定悬盘的扭转摆动周期。通过实验使学生掌握物体转动惯量的物理概念及实验测量方法,了解物体转动惯量与哪些因素有关。

  新型转动惯量实验仪KY-IM-C是在II型的基础上改进而成,除了保留原来所有的实验项目,将原来的底盘换成光学导轨的形式,这样更加有利于光路的调整,节省了实验时间。应用该仪器实验者深入研究和分析悬盘振动中等周期振动及周期变化情况。仪器直观性强,测量准确度高。本仪器是传统实验采用现代化技术的典型实例。

  应用本仪器可以完成以下实验内容:

  1.学习用三线摆法测定物体的转动惯量。

  2.测定二个质量相同而质量分布不同的物体的转动惯量,进行比较。

  3.验证转动惯量的平行轴定理。

  仪器主要技术指标:

  1.摆线长度 >500 mm

  2.总重量 13.6 Kg

  3.计时仪分辨率 0.001 S

  4.计数预置次数 ≤66次

  5.实验样品 小圆柱体 2个

        圆盘和圆环 各1个

产品名称:激光测距仪/手持式测距仪
产品型号: GM-60D

激光测距仪/手持式测距仪 型号:GM-60D

 

产品名称激光测距仪(光电式)
产品型号GM-60D
功能及技术参数
测量范围0.1m~60m (4 in ~197 ft)
精度±1.5mm  (±0.06inch)
测量单位m, in, ft, m², ft², m³, ft³
工作原理光电式技术(测试时不会抖动)
测量速度3次/秒
防尘防水IP54
历史测量记录 可存储20组数据 
激光等级635nm, <1mW, Class II
电池寿命大于5000次
按键寿命大于100万次
面积、体积测量√。 支持m²/ft²/m³/ft³四种显示单位
间接测量(勾股定理)√。 支持2次、3次间接测量
加减测量
连续测量
zui大/zui小值测量
多行照明显示√。zui多可显示四行数据
测量基准边缘选择√。可选择机身顶部或者底部作为测量基准
蜂鸣提示
背光√。白色(可自动关闭)
自动矫正技术√。可以进行测量读数矫正及外部校准
软件报错功能√。错误代码提示
数据保持√。自动保持
数据清除
电量显示√。电量“满、中等、低”三种状态显示
激光手动/自动关闭√。不使用30S后自动关闭
仪表手动/自动关机√。不使用180S后自动关闭
保修期12个月
一般特征
电池2节 1.5V AAA电池
机身颜色黄+黑
机身重量131.2G(含电池)
机身尺寸128*50*28 mm 
标准配件携带包、电池、说明书、保修卡
标准包装方式彩盒包装
标准数量/外箱20
标准外箱尺寸38.7*30.2*41cm
标准外箱重量6.9kg

 

 

 

 

 

产品名称:数字式四探针测试仪
产品型号: ST2253

数字式四探针测试仪 型号: ST2253 
概述   
      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印! 
     
    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
     
    测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω 
    电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 
    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
    长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表: 
    (1)量程: 20.00mV~2000mV 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A 
   (2)误差:±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头(选配其一或加配全部) 
    (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W 
3.7.外形尺寸: 
    主   机  220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高) 
   净   重:≤2.5kg

 

 

 

 

产品名称:不良导体导热系数测定仪
产品型号: TDJ-FR5 

不良导体导热系数测定仪型号:TDJ-FR5  
  测量不良导体导热系数,如真空橡皮板等,仪器由红外线加热,热电偶测温。

 



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