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红外线快速水分测定仪

红外线快速水分测定仪

简要描述:红外线快速水分测定仪/快速水分测定仪/红外快速水份仪/红外水份仪/红外线水份仪 型号:TC-SFY -60A

产品型号: TC-SFY

所属分类:专业仪器

更新时间:2022-07-15

厂商性质:其他

详情介绍
品牌同德产地国产

红外线快速水分测定仪/快速水分测定仪/红外快速水份仪/红外水份仪/红外线水份仪 型号:TC-SFY -60A

产品特点:

1、体积小、重量轻
2、检测速度快
3、全自动模式,确保测试准确
4、操作简单、显示各种数据

5、用途广泛
6、具有与计算机、打印机连接功能

 

产品介绍:
技术指标:
1、称重范围: 0-60g
2、水分测定范围:0.01-99%
3、称重zui小读数:0.002g
4、样品质量: 0.5-60g
5、加热温度范围: 起始-180℃
6、水分含量可读性: 0.01%
7、显示参数: 7种
8、通讯接口: RS 232
9、外型尺寸: 380×205×325(mm)
10、电源: 220V±10%
11、频率: 50Hz±1Hz
12、净重: 3.7Kg

   红外线快速水分测定仪,采用热解重量原理设计,是一种快速的水分检测仪器。水分测定仪在测量样品重量的同时,红外加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品,在干燥过程中,水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量%,干燥程序完成后,zui终测定的水分含量值被锁定显示。与烘箱加热法相比,红外加热可以zui短时间内达到zui大加热功率,在高温下样品快速被干燥,其检测结果与国标烘箱法具有良好的*性,具有可替代性,且检测效率远远高于烘箱法。一般样品只需几分钟即可完成测定。且操作简单,测试准确,显示部分采用红色数码管,分别可显示水分值、样品初值、终值、测定时间、温度初值、zui终值等数据,清晰可见。并具有与计算机,打印机连接功能。该水分仪可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业,如塑胶、橡胶、化工、医药、食品、等行业中的生产过与实验过程中。

 

产品名称: 便携式电导率仪 手持式电导率仪
产品型号:DPB-3520

 便携式电导率仪 手持式电导率仪型号:DPB-3520 
DPB-320型便携式电导率仪一款全中文显示,方便的便携式仪表,具有全智能,多功能,测量性能高等特点。于各行业溶液中电导率值的测量。 

介绍: 

1.中文主菜单操作,易于理解,操作快捷方便  
2.仪器结构小巧美观,便于携带  
3.多量程,自动转换,测量精度高  
4.24位A/D信号采集,高精度测量,准确可靠  
5.贴片工艺及一体化设计,高集成度电路设计稳定耐用  
6.电池使用时间长,充满电可长达8小时测量  
7.循环数据存储功能,自动清除溢出数据,操作简单,查询方便,断电数据存储时间10年以上  
参数:  


显示:128×64点阵液晶,中文显示  
测量范围:  
K=0.01可选测量范围( 0.000~3.000)μS/cm和(0.00~30.00) μS/cm  
K=0.10可选测量范围(0.00~30.00) μS/cm和(0.0~300.0) μS/cm  
K=1.00可选测量范围、(0.0~300.0) μS/cm和(0~3000) μS/cm  
K=10.0可选测量范围 (0~3000) μS /cm和(0~30000 ) μS/cm                                  
示值误差:±1% F.S  
分辨率:0.001μS/ cm  
重复性:不大于1%  
测温范围:(0.0-99.9)℃  
温补范围:(0.1-60.0)℃  
水样温度:(5-60)℃  
供电电源:交流(220±22)V  
外形尺寸:162 mmX 82 mmX 33mm  
重量:0.2kg  
配置:  


1.DPB-3520型电导率仪主机一台  
2.K=1.0电导率电一支  
3.手提箱  
4.产品说明书一份  
5.装箱单一份  
6.合格证一份

 

 

 

 

 

产品名称:非接触厚度电阻率测试仪
产品型号:JXNRT1

非接触厚度电阻率测试仪型号:JXNRT1 
一、测试原理 
1、电阻率测试探头原理 
电阻率测试模块是由一对共轴涡流传感器,以及后续的处理电路组成。将半导体硅片置于两个探头的间隙中时,在电磁场的作用下,半导体硅片中会产生涡流效应,通过检测涡流效应的大小,可以换算出该硅片的电阻率和方块电阻。本方法是一种非接触无损测量的方法,不损伤材料表面,可以在大多数场合有效替代四探针法测试电阻率以及方块电阻。 
2、厚度测试探头原理 
厚度探头采用的是一对共轴电容位移传感器。电容传感器具有重复性好,测试数值稳定,技术成熟等优点,广泛用于各种材料厚度的测试。 
  
二、范围 
本设备为非接触无损测量设备,测试过程中对硅片表面以及内部不会造成损伤。特别于代替四探针法用于半导体硅片成品分选检验。一台仪器可以同时对厚度和电阻率两个指标进行测试分选,减少了测试工序和测试时间,提高了测试效率。 
典型的客户:科研单位、硅片生产厂商、半导体器件生产厂商、光伏企业、导电薄膜生产企业。 
三、仪器构成 
1、测试主机:1 台 
2、电源线:1 根 
3、串口数据线:1 根 
4、电脑端软件:1 套 
5、塑料定位柱:2 个 

四、仪器外观尺寸结构及图片 
1、整机尺寸:340*260*180mm 
2、机箱颜色:电脑白 


3、仪器结构:本仪器采用厚度探头和电阻率探头前后并列安装的方式。 
五、仪器主要指标 
1、电气规格 
a. 使用标准三插头,由 220V 交流电供电,整机功耗小于 15 瓦。 
b. 本仪器测试平台和外壳均为金属材料,按照安全规范,请确保电源地线正确连接。 
2、测试范围 
测试样品要求:厚度小于 600um 的半导体硅片以及其他类似材料。(为客户提供特殊定制,厚度大的测试范围可以扩展到 800um) 
电阻率范围: L 档: 0.2-5 Ω·cm 
H 档: 5-50 Ω·cm 
注: 电阻率不在上述量程范围内的可以按要求调整, 调整的范围可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范围: 100-600 um (定制版可以做到 300-800um) 注:普通版本厚度大于 700um 的硅片无法放入测试区域。

 

 

 

 

产品名称:自动缺口制样机 
产品型号: TD-QKZ-20 

自动缺口制样机 型号:TD-QKZ-20 
    TD-QKZ-20 自动缺口制样机,是用机械加工方法制备加工塑料、有机玻璃等非金属材料的简支梁、悬臂梁冲击试验用标准缺口样条。该机符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求,是一种结构合理、操作方便、快速准确的制样设备。 
主要技术参数: 
1.  铣缺口刀ju长度:50 mm 
2.  Z大铣切厚度:20mm 
3.  铣刀往返速度:60次/min 
4.  电机功率:60W 
缺口试样类型:A型、B型、C型 
A型   45°±1° R=0.25±0.025mm 
B型   45°±1° R=1.0±0.025mm 
C1型  缺口厚度为0.8±0.1mm 
C2型  缺口厚度为2.0±0.2mm 
C3型  缺口厚度为1.8±0.2mm

 

 



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