品牌 | 同德 | 产地 | 国产 |
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红外线快速水分测定仪/快速水分测定仪/红外快速水份仪/红外水份仪/红外线水份仪 型号:TC-SFY -60A
产品特点:
1、体积小、重量轻
2、检测速度快
3、全自动模式,确保测试准确
4、操作简单、显示各种数据
5、用途广泛
6、具有与计算机、打印机连接功能
产品介绍: 红外线快速水分测定仪,采用热解重量原理设计,是一种快速的水分检测仪器。水分测定仪在测量样品重量的同时,红外加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品,在干燥过程中,水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量%,干燥程序完成后,zui终测定的水分含量值被锁定显示。与烘箱加热法相比,红外加热可以zui短时间内达到zui大加热功率,在高温下样品快速被干燥,其检测结果与国标烘箱法具有良好的*性,具有可替代性,且检测效率远远高于烘箱法。一般样品只需几分钟即可完成测定。且操作简单,测试准确,显示部分采用红色数码管,分别可显示水分值、样品初值、终值、测定时间、温度初值、zui终值等数据,清晰可见。并具有与计算机,打印机连接功能。该水分仪可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业,如塑胶、橡胶、化工、医药、食品、等行业中的生产过与实验过程中。
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![]() | 产品名称: 便携式电导率仪 手持式电导率仪 产品型号:DPB-3520 |
便携式电导率仪 手持式电导率仪型号:DPB-3520
DPB-320型便携式电导率仪一款全中文显示,方便的便携式仪表,具有全智能,多功能,测量性能高等特点。于各行业溶液中电导率值的测量。
介绍:
1.中文主菜单操作,易于理解,操作快捷方便
2.仪器结构小巧美观,便于携带
3.多量程,自动转换,测量精度高
4.24位A/D信号采集,高精度测量,准确可靠
5.贴片工艺及一体化设计,高集成度电路设计稳定耐用
6.电池使用时间长,充满电可长达8小时测量
7.循环数据存储功能,自动清除溢出数据,操作简单,查询方便,断电数据存储时间10年以上
参数:
显示:128×64点阵液晶,中文显示
测量范围:
K=0.01可选测量范围( 0.000~3.000)μS/cm和(0.00~30.00) μS/cm
K=0.10可选测量范围(0.00~30.00) μS/cm和(0.0~300.0) μS/cm
K=1.00可选测量范围、(0.0~300.0) μS/cm和(0~3000) μS/cm
K=10.0可选测量范围 (0~3000) μS /cm和(0~30000 ) μS/cm
示值误差:±1% F.S
分辨率:0.001μS/ cm
重复性:不大于1%
测温范围:(0.0-99.9)℃
温补范围:(0.1-60.0)℃
水样温度:(5-60)℃
供电电源:交流(220±22)V
外形尺寸:162 mmX 82 mmX 33mm
重量:0.2kg
配置:
1.DPB-3520型电导率仪主机一台
2.K=1.0电导率电一支
3.手提箱
4.产品说明书一份
5.装箱单一份
6.合格证一份
![]() | 产品名称:非接触厚度电阻率测试仪 产品型号:JXNRT1 |
非接触厚度电阻率测试仪型号:JXNRT1
一、测试原理
1、电阻率测试探头原理
电阻率测试模块是由一对共轴涡流传感器,以及后续的处理电路组成。将半导体硅片置于两个探头的间隙中时,在电磁场的作用下,半导体硅片中会产生涡流效应,通过检测涡流效应的大小,可以换算出该硅片的电阻率和方块电阻。本方法是一种非接触无损测量的方法,不损伤材料表面,可以在大多数场合有效替代四探针法测试电阻率以及方块电阻。
2、厚度测试探头原理
厚度探头采用的是一对共轴电容位移传感器。电容传感器具有重复性好,测试数值稳定,技术成熟等优点,广泛用于各种材料厚度的测试。
二、范围
本设备为非接触无损测量设备,测试过程中对硅片表面以及内部不会造成损伤。特别于代替四探针法用于半导体硅片成品分选检验。一台仪器可以同时对厚度和电阻率两个指标进行测试分选,减少了测试工序和测试时间,提高了测试效率。
典型的客户:科研单位、硅片生产厂商、半导体器件生产厂商、光伏企业、导电薄膜生产企业。
三、仪器构成
1、测试主机:1 台
2、电源线:1 根
3、串口数据线:1 根
4、电脑端软件:1 套
5、塑料定位柱:2 个
四、仪器外观尺寸结构及图片
1、整机尺寸:340*260*180mm
2、机箱颜色:电脑白
3、仪器结构:本仪器采用厚度探头和电阻率探头前后并列安装的方式。
五、仪器主要指标
1、电气规格
a. 使用标准三插头,由 220V 交流电供电,整机功耗小于 15 瓦。
b. 本仪器测试平台和外壳均为金属材料,按照安全规范,请确保电源地线正确连接。
2、测试范围
测试样品要求:厚度小于 600um 的半导体硅片以及其他类似材料。(为客户提供特殊定制,厚度大的测试范围可以扩展到 800um)
电阻率范围: L 档: 0.2-5 Ω·cm
H 档: 5-50 Ω·cm
注: 电阻率不在上述量程范围内的可以按要求调整, 调整的范围可以在0.001-100Ω*cm。
厚度范围: 100-600 um (定制版可以做到 300-800um) 注:普通版本厚度大于 700um 的硅片无法放入测试区域。
![]() | 产品名称:自动缺口制样机 产品型号: TD-QKZ-20 |
自动缺口制样机 型号:TD-QKZ-20
TD-QKZ-20 自动缺口制样机,是用机械加工方法制备加工塑料、有机玻璃等非金属材料的简支梁、悬臂梁冲击试验用标准缺口样条。该机符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求,是一种结构合理、操作方便、快速准确的制样设备。
主要技术参数:
1. 铣缺口刀ju长度:50 mm
2. Z大铣切厚度:20mm
3. 铣刀往返速度:60次/min
4. 电机功率:60W
缺口试样类型:A型、B型、C型
A型 45°±1° R=0.25±0.025mm
B型 45°±1° R=1.0±0.025mm
C1型 缺口厚度为0.8±0.1mm
C2型 缺口厚度为2.0±0.2mm
C3型 缺口厚度为1.8±0.2mm