真空吸盘自动涂膜器
简要描述：自动涂膜器真空吸盘自动涂膜器 型号：JYC-AFA-IIJYC-AFA-II自动涂膜器能方便地在不同的底材上自动完成湿膜制备器或线棒涂布器的涂布运动，避免了涂膜过程中的人为因素误差，能有效地提高制膜的重现性。
产品型号： JYC-AFA-II
所属分类：专业仪器
更新时间：2023-10-30
厂商性质：其他
详情介绍
自动涂膜器真空吸盘自动涂膜器 型号：JYC-AFA-II
自动涂膜器真空吸盘自动涂膜器
JYC-AFA-II自动涂膜器能方便地在不同的底材上自动完成湿膜制备器或线棒涂布器的涂布运动，避免了涂膜过程中的人为因素误差，能有效地提高制膜的重现性。本机随机不提供湿膜制备器或线棒涂布器，请按需另行订购。
主要参数：
1. 涂布底座尺寸： 475mm×350mm
2. 可真空尺寸： 430mm×300mm
3. 可涂布长度： 250mm或 370mm
4. 涂布速率： 0～10cm/s无变速
5. 总功率： 350W
6. 电源： 220V 50Hz
7. 外形尺寸： 705mm×505mm×270mm （长×宽×高）
8. 重量： 约65Kg
可调式涂膜器 涂膜器 制备器 型号：JYC-KTQ-2
可调式涂膜器通过调节涂膜器上方的两个微分器，能上下方向调节下面的刮刀以控制间隙，即zui终涂层厚度。刮涂时以每10微米为单位调整刮刀的间隙，涂膜范围从0-3500um。
1. 有效涂刮宽度：55mm
2. 精度：K2um 3. 仪器净重：358g
4. 外形尺寸：112＊78＊100mm（长＊宽＊高）
 | 产品名称：驾驶式振动压路机 振动压路机
产品型号：JJ-700J |
驾驶式振动压路机 振动压路机 型号：JJ-700J
| 产 品 说 明 |
型号 | JJ-700J | 行走速度 | 4km/h（前进、后退） | 油箱容积 | 5.5 L | 理论爬坡能力 | 30% | 润滑油量 | 1.6 L | 静线载荷 | 52N/cm | 燃油消耗量 | 320g≤/kwh | 名义振幅 | 0.6m | 钢轮宽度 | 700mm | 振动频率 | 70Hz | 钢轮直径 | 580mm | 激振动 | 35kN | 总长 | 1550mm | 水箱容积 | 18L | 总宽 | 850mm | 驱动 | SAUER静液压传动单元 | 总高 | 1100mm | 振动 | 机械传动自动离合 | 包装尺寸 | 1850*680*1050mm | 发动机型号 | KATM—186F空冷4冲程 | 工作重量 | 830kg | 功率 | 6.0/3600rpm 5 | zui大工作重量 | 850kg |
用途：
用于压实沥青表面，压实砾石、沙土等工程基础，碾压草坪。
性能特点：
◆作业半径小，可在狭小的区域内工作；
◆柴油机，*，性能优越，启动容易；
◆采用齿轮泵、马达，前后行进，换向方便；
◆扶手采用平面齿轮调节机构，灵活方便，可适应不同身高的工人操作；
◆采用FYH精工轴承，MITSUBOSHI(三星)三角带，保证了机器的工作性能；
◆表面喷塑，漂亮美观，防锈耐蚀；  | 产品名称：本质安全型红外测温仪 矿用红外测温仪
产品型号：CWH760 |
本质安全型红外测温仪 矿用红外测温仪 型号：CWH760
一、仪器简介
感谢您选择CWH760本质安全型红外测温仪（以下简称红外测温仪）。
红外测温仪可以直接测量目标温度而无需接触目标。其工作原理是通过测量目标发射的红外线辐射强度计算出物体的表面温度。非接触测温是红外测温仪大的优点，使用户可以方便地快速测量难以接近或移动的物体。
本仪器重量轻、适合袋装，便于随身携带。该测温仪在操作方便的情况下具有测量精确、多信息显示的特点，可以在0~40℃的环境下使用。激光指示可以方便地瞄准目标。具有小值/大值保持、视听高低温报警等多种测量方式，可以在带背景光的显示屏上显示所有你所需要的信息。
环境条件
a) 工作温度：0℃～40℃；
b) 相对湿度：不大于96%（25℃）；
c) 大气压力：80 kPa～110kPa；
d）贮存温度：-40℃～+60℃。
技术指标
  | 产品名称：数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪
产品型号：M-2 |
数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪型号：M-2 一·概述
M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。
仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。
仪器于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别于要求快速测量中低电阻率的场合.
本仪器工作条件为：
温度：
相对湿度： 60% ~ 70%
工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源
二· 技术参数
1. 测量范围：
电阻率：10 -2 ~ 102Ω-cm
方块电阻：10 -1 ~ 103Ω/□
电阻：10 -3 ~ 9999Ω
2. 可测半导体材料尺寸
直径：15mm-100mm
长（或高）度：≤400mm
3. 测量方位：
轴向，径向均可
4. 数字电压表
量程：2V
误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB
大分辨力：10μA
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位)
显示：4位数字显示，小数点自动显示
5. 数控恒流源
电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。
误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB
6. 四探针测试探头：
探针间距： 1mm
探针机械游移率：± 1%
探针：碳化钨，直径0.5mm
7.电源：
DC 4.5V ~8V
功耗： < 1W
电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz
输出：DC5V ± 10%
8. 外形尺寸：
主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高) |
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