覆膜砂制样机

覆膜砂制样机型号：SAFB 

 一、简述
覆膜砂制样机用于树脂覆膜砂作抗折强度测试试样的制作。仪器采用进口微电脑数显控温仪控温；带数字定时报警功能；输出电压监视。模具为耐高温模具钢，加热不变形等特点。仪器由加热器、试样芯盒模具、砂铲括板、数字温控仪等部件组成。

二、主要技术参数
1、zui高测量温度  400℃（可调节）；
2、功率  900W  / AC220V/50Hz；
3、仪表控温测量精度     ±1.5%；
4、芯盒一次制作5个砂样 

产品名称：数位式照度计 便携式照度计 产品型号： TASI-630

数位式照度计 便携式照度计 型号： TASI-630 
产品规格： 
测量范围20lux、200lux、2000lux、20Klux 
20fc、200fc、2000fc、20Kfc 
解析度0.01lux，0.01fc 
精确度±(3%读值±10位) 
所有精确度是以A光源(2856K)为校正源 
感测器硅质光二体感测器 
显示3½ 位数字液晶显示，zui大1999读值 
取样率2.5次／秒 
电池电压不足显示当电池电压低于操作电压时，"+ -"显示 
操作环境0℃~50℃，相对湿度<70%R.H. 
储存环境-20℃~60℃，0至80%R.H. 
尺寸190mm(高)x65.5mm(宽)x35mm(厚) 
重量约210公克 (含电池) 

应用范围： 
■室内　　　■办公室 
■实验室　　■环境研究

产品名称：数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪 产品型号：M-2

数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪型号：M-2

一·概述 
M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。 

仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。 

仪器于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别于要求快速测量中低电阻率的场合. 

本仪器工作条件为： 
温度：  
相对湿度： 60% ~ 70% 
工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源 

二· 技术参数 
1. 测量范围： 

电阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方块电阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
电阻：10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可测半导体材料尺寸 
直径：15mm-100mm 
长（或高）度：≤400mm 


3. 测量方位： 
轴向，径向均可 

4. 数字电压表 
量程：2V 
误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
显示：4位数字显示，小数点自动显示 

5. 数控恒流源 
电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。 
误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探针测试探头： 
探针间距： 1mm 
探针机械游移率：± 1% 
探针：碳化钨，直径0.5mm 
7.电源：  
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz 
输出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高)

产品名称：焦碳转鼓机械筛  产品型号：KER-GS

焦碳转鼓机械筛 型号：KER-GS
概述  
    KER-GS型焦炭转鼓机械筛，于冶金焦炭、铸造焦炭的机械强度测定,是代替手筛、减轻劳动强度、删除手穿孔操作，提高测定准确性、可比性的理想设备。它结构紧凑、操作简单、使用方便、运转可靠。它装有时间继电器和电气控制，使筛内试样得到准确的定时筛分，可消除手筛操作的人为误差。 
主要技术参数 
摆动频率：往复25次/min(摆动50次/min) 
摆动角度：40°－45° 
电源功率：380V/2.2kw 
整机重量： 340kg 
外形尺寸： 1540mm × 1150mm × 1200mm （长×宽×高） 
筛板尺寸：1000× 700mm ，筛孔为φ 10mm 、φ 25m 或φ 40mm