氢气发生仪TCDH-500B

氢气发生仪TCDH-500B

氢气流量： 0—500ml/min
zui大功率： 200W
氢气纯度： 99.999%
重量： 12000.00克
输出压力： 0—0.7 Mpa 可调 
电源电压： AC220V 50/60 HZ 10A

氢气发生仪TCDH-500B ◇ 池体具有过液保护功能，确保仪器安全运行。
◇ 氢气多级净化后输出，氢气纯度更高。
◇ 氢气输出压力达到0.7MPA 。
◇ 强制散热，延长控制电源及池体使用寿命。
◇ 有效电解面积大、池温底，整机运行稳定性更强。
◇ 整机操作简单、维护方便。
◇ 附带废气净化器，排放更加纯净

 产品名称：数显维氏硬度计 
产品型号：TDHVS-50

数显维氏硬度计 型号：TDHVS-50

TDHVS-50型数显维氏硬度计 
该机采用无摩擦主轴，试验力精度高；数字式压痕自动测量系统；试验过程自动化，无人为操作误差；大型LCD液晶显示屏，菜单操作，功能齐全（数据处理、硬度转换等）；自动数字显示，无人为读数误差；随机打印机打印硬度测试结果；精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美国ASTM E92。  
数显维氏硬度计主要应用范围 
渗氮层、陶瓷、钢、有色金属；薄板、金属薄片、电镀层、微小试件；材料强度、热处理、碳化层、脱碳层和淬火硬化层的深度；应用范围广，特别于平行平面的精密测量。 
数显维氏硬度计主要技术参数 
测量范围：5-2900HV 
试 验 力：9.807、49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛顿 
              (1、5、10、20、30、50公斤力) 
试件允许大高度：180毫米                压头中心至机壁距离：125毫米 
光学测微计放大倍数：125倍，50倍        小检测单位：0.5微米     
电     源：交流220伏，50/60赫兹         外形尺寸：580 x 260 x 730毫米 
重     量：约90千克 
数显维氏硬度计主要附件 
大平试台：1个             小平试台：     1个 
V形试台： 1个            标准维氏压头：1只 
标准维氏硬度块：3块

产品名称：电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪
产品型号：JX2008 

电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪型号：JX2008 

产品说明  
JX2008 电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能 
综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和 
轴向电阻率，于半导体及太阳能行业的筛选。  
 JX2008 电阻率及型号测试仪 产品特点  
1仪器采用 220V 交流电源供电。  
2  同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。  
3  拥有较高的电阻率测试分辨率， 小可到0.001欧姆.厘米。   
4  能精确的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材 
料型号。  
5  独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。  
6  适中的体积和便携性。  
7  简单的操作，快速的测试。  
8  低廉的价格，很高的性价比。  
1.具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。  
2.电阻率分档直观，P/N报警门限分设。  
3.预设样片厚度，自动修正，直读电阻率  
4.P/N分选精度强  
5.交流电AC220V供电  
6.主机尺寸：155×120×50mm  
6.电阻率:0.001-100欧姆厘米  
7.P/N型号:0.05欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米