污垢热阻测试仪用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性，通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性，可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。
仪器解决监测换热器难以准确测量污垢热阻值、污垢沉降速率 和不能直接观察污垢热阻变化全过程的这一难题，在这个基础上实现对整个水处理性能指标进行分析、比较、保存和打印各种曲线及报表等功能。当器件的功率发生变化时，器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态，我们的仪器将会记录结温在这个过程中的瞬态变化曲线。
一次测试，既可以得到稳态的结温热阻数据，也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线，瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息（热阻和热容参数）。
一、主要功能：
1、准确测量污垢热阻和直接观察污垢热阻变化的全过程；
2、采用单片机作主机，减少外围部件，提高可靠性；
3、污垢热阻测试仪可对多项试验参数设定，适合多场合的试验要求；
4、同时显示瞬时污垢热阻测量值和沉降速率测量值，并以对应的4-20mA信号输出，输出采用模块化结构，功能配置方便灵活；
5、配有标准RS485通讯接口。
二、应用范围：
1、各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件；
2、各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。
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